薄膜厚度測定儀 EF-II

一、用途

EF-II 薄膜厚度測定儀，主要用于測定金屬薄膜涂層的厚度，該儀器采用非接觸式兩次對焦的光學測量法，附以的電子對焦系統，使得測量的重復誤差在 1-3μm 之間，利用 CCD 加監視器觀察圖像，比人眼觀察更客觀。該儀器使用方便、操作簡單、測量誤差小、精度高，廣泛應用于電子工業、塑料、橡膠、機械等行業。

二.規格

1.物鏡:20X、40X

2.總放大倍數：600X、1200X （ 480線CCD ）

3.工作距離：95mm

4.工作臺：30 × 70mm

5、最大測量厚度： 2mm

6、重復測量誤差：1-3μm

三．儀器的成套性  

1.主機：一臺  

2.CCD 攝像頭一